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產(chǎn)品名稱:時代渦流涂層測厚儀|氧化膜測厚儀
產(chǎn)品型號:TT230
更新時間:2023-12-01
產(chǎn)品特點(diǎn):TT230時代渦流涂層測厚儀|氧化膜測厚儀是一種超小型測量儀,它能快速、無損傷、精密地進(jìn)行非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測量,比如鋁上的氧化膜,所以也叫膜厚儀,膜厚測量儀;TT230是時代集團(tuán)早先推出的成熟型測厚儀型號之一,無錫君達(dá)儀器優(yōu)惠價格2450.00供應(yīng)TT230。
TT230時代渦流涂層測厚儀|氧化膜測厚儀的詳細(xì)資料:
TT230時代渦流涂層測厚儀
TT230時代渦流涂層測厚儀|氧化膜測厚儀是一種超小型測量儀,它能快速、無損傷、精密地進(jìn)行非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測量,比如鋁上的氧化膜,所以也叫膜厚儀,膜厚測量儀;TT230時代渦流涂層測厚儀|氧化膜測厚儀是時代集團(tuán)早先推出的成熟型測厚儀型號之一,無錫君達(dá)儀器優(yōu)惠價格2450.00供應(yīng)TT230時代渦流涂層測厚儀|氧化膜測厚儀。
TT230時代渦流涂層測厚儀|氧化膜測厚儀可廣泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域;該儀器體積小、測頭與儀器一體化,特別適用于工程現(xiàn)場測量。
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TT230時代渦流涂層測厚儀|氧化膜測厚儀符合以下標(biāo)準(zhǔn):
GB/T 4957-1985 渦流方法
JJG 818-93 《電渦流式測厚儀》
JB/T8393-1996磁性和渦流覆層測厚儀
TT230時代渦流涂層測厚儀|氧化膜測厚儀功能特點(diǎn)
采用了渦流測厚法,可無損傷地測量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度
(如銅、鋁、鋅、錫等基底上的琺瑯、橡膠、油漆鍍層)
可進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)及二點(diǎn)校準(zhǔn),并可用基本校準(zhǔn)法對測頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正
具有兩種測量方式:連續(xù)測量方式(CONTINUE)和單次測量方式(SINGLE)
具有兩種工作方式:直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl)
具有刪除功能:對測量中出現(xiàn)的單個可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除,也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)
設(shè)有五個統(tǒng)計量:平均值、zui大值(MAX)、zui小值(MIN)、測試次數(shù)(NO.)、標(biāo)準(zhǔn)偏差
具有米、英制轉(zhuǎn)換功能
具有打印功能,可打印測量值、統(tǒng)計值
具有欠壓指示功能
操作過程有蜂鳴聲提示
具有錯誤提示功能
具有自動關(guān)機(jī)功能
TT230時代渦流涂層測厚儀|氧化膜測厚儀技術(shù)參數(shù)
測頭類型:N
測量原理:電渦流
測量范圍: 0-1250um | 0-40um(銅上鍍鉻)
低限分辨力:1µm(10um以下為0.1um)
探頭連接方式:一體化
示值誤差:
一點(diǎn)校準(zhǔn)(um):±[3%H+1.5]
兩點(diǎn)校準(zhǔn)(um):±[(1%~3%)H+1.5]
測量條件:
zui小曲率半徑(mm):凸3 | 凹10
基體zui小面積的直徑(mm):ф5
zui小臨界厚度(mm):0.3
溫濕度:0~40℃ | 20%RH~90%RH
統(tǒng)計功能:平均值、zui大值(MAX)、zui小值(MIN)、測試次數(shù)(NO.)、標(biāo)準(zhǔn)偏差
工作方式:直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl)
測量方式:連續(xù)測量方式(CONTINUE)和單次測量方式(SINGLE)
上下限設(shè)置:無
存儲能力:15個測量值
打印/連接計算機(jī):可選配打印機(jī)/能連接電腦
關(guān)機(jī)方式:自動
電源:二節(jié)3.6V鎳鎘電池
外形尺寸:150×55.5×23mm
重量:150g
TT230涂層測厚儀基本配置
TT230涂層測厚儀主機(jī)
鋁基體
標(biāo)準(zhǔn)片一套
充電器
使用說明書
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