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時代粗糙度儀測量平臺微調平臺

時代粗糙度儀測量平臺微調平臺有幾種供用戶選擇配合時代的粗糙度儀使用，在一般情況下，時代的粗糙度儀可以現(xiàn)場使用，作便攜式儀器測量粗糙度；而在某些場合則需要配合測量平臺和微調平臺。粗糙度儀測量平臺TA610和TA620  ，是支持粗糙度儀的本機的；粗糙度儀微調平臺TA630和631則是用來調節(jié)工件的。

粗糙度儀測量平臺TA610  

粗糙度儀測量平臺齒條升降，立柱可以隨意轉動，用來  
測量不容易放置的工件，可提高測量精度  
花崗巖平臺平面度：00級|平面公差值3μm  
花崗巖平臺尺寸：400×250×70mm  
垂直升降高度：270mm  
垂直升降微調量：20mm  

粗糙度儀測量平臺TA620  

絲桿升降，平臺上設置V型槽，用來測  
量形狀較小的工件，可提高測量精度  
花崗巖平臺平面度：00級|平面公差值3μm  
花崗巖平臺尺寸：400×250×70mm  
垂直升降高度：300±1mm  
升降回程誤差：≤手輪旋轉1/6圈  

粗糙度儀微調平臺TA630  

X—Y平面轉角，俯仰角  
調整范圍：   
X向：±12.5mm  
Y向：±12.5mm  
旋轉角度：   
粗調：360  

 

無錫君達儀器公司專業(yè)提供，歡迎您的詳細信息！的種類有很多，不同應用范圍也會有細微的差別，我們將會為您提供*的解決方案。